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透射密度计TBX2000
The TBX1000™ 透射密度计测量ISO视觉漫反射光学密度 (OD) 至6.60D. 较宽的测量范围允许对多种类型的材质如薄膜,层压板和基板进行评估.该设备带有一个2.00D的校准标准但有一个可选的校准标准值需要购买。TBX1500还可以测量正点和负点区域;TBX2000测量不透明度百分比和透射度。数据可以通过USB端口(配件需另外采购)上传电子表格。TBX™可以显示所有函数的存储参考值的偏差。
特点:
软键菜单操作非常适合测量金属薄膜的光学密度。
规格: 光学设计……………………………………………………………….............ANSI PH2.19 显示…………………………………………………………………………………..LCD屏幕(128x64像素) 光圈…………………………………………………………………………………..1,2,3毫米 杆长……………………………………………………………………………………7.5英寸 输出接口……………………………………………………………………………USB 电源输入……………………………………………………………………………12V输入110/220适配器 测量范围……………………………………………………………………………0-6.00D 准确度……………………………………………………………………………….0.02D 精度……………………………………………………………………………………0.01D 预热时间…………………………………………………………………………….无 选项: 型号 PART# 功能 TBX1000 FD343-10(USA);FF343-10 (Intl.) 密度;密度差 TBX1500 FD343-15 (USA); FF343-15 (Intl.) 密度;密度差;正负点距离 TBX2000 FD343-20 (USA); FF343-20 (Intl.) 密度;密度差;%密度;%透明度
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